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全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成......
Combiscope
作为一款研究级原子力系统,它能完美地与倒置光路结合,并且同时拥有自动化、高分辨率测试以及耦联灵活性等特点。产品特点全自动高分辨率大范围扫描器优异的闭环控制所有S......
SmartSPM
作为一款全自动高性能化系统,它可同时为各种先进材料研究提供超快速扫描、高分辨率测试以及各种模式的纳米测试。产品特点全自动高速高分辨率大范围扫描器优异的闭环控制所......
UVISEL
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。产品特点5......
高效型CL光谱仪
电子束入射到样品上,即可用光学方法接收并分析阴极发光(CL),从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法,结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果......
Flex-CLUE
仪器简介:   电子束入射到样品上,即可用光学方法接收并分析阴极发光(CL),从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法,结合电镜可......
Profiler
GD-Profiler HR拥有独一无二的超高光谱分辨率,为解决复杂基体中的疑难问题提供了适宜、便利的方法。技术参数:1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳......
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GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一......
In-situ
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实......
HORIBA
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数:· 光谱范围:......
HORIBA
 仪器简介:  椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界......
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