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HORIBA科学仪器事业部
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | HORIBA NANO Raman |
| 品牌： | 堀场HORIBA | 产地： | 法国 |
| 关注度： | 1459 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 仪器种类 | 显微共焦拉曼光谱 | 价格范围 | 150万-200万 |
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随着扫描探针显微镜（SPM）在二十世纪八十年代的出现，大气环境中的纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征得以快速持续的发展，然而如何实现纳米尺度的的化学结构表征仍是一项挑战。
拉曼光谱为分子结构和化学组分分析提供了有效的解决方案，广泛应用于材料科学和生命科学领域。但是这种方法的空间分辨率在很大程度上受限于光学衍射极限。
因此，将这两种技术结合是极富吸引力和挑战性的，引领我们进入纳米光学的世界。在该领域，HORIBA Scientific 通过几十年的经验积累和努力，开发了一套 HORIBA NANO Raman 的整体解决方案，使其成为一个通用且功能强大、使用简便、快速可靠的分析工具。
HORIBA NANO Raman
1
重要特征
1多种样品分析平台
高分辨样品扫描器，扫描样品面积从纳米尺寸至样品台极限
2简便易操作
全自动操作，极大缩短了测试时间
3真共聚焦
高空间分辨率，自动成像平台，多种显微镜可视观察系统
4高灵敏度
多只有三面反射镜，灵敏度和光通量得到极大提高，提高设备稳定性
5高光谱分辨率
多光栅自动切换，宽的光谱范围用于拉曼和 PL 测试
6纳米尺度空间分辨率
通过针尖增加拉曼光谱 (TERS) 成像，实现 10nm 的空间分辨率
7多种测试模式 / 多种环境
多种 SPM 模式，包括 AFM、导电 AFM、开尔文、STM 模式，可以子在液体和电化学环境下测试，通过 TERS 和 TEPL 技术，可同时获得化学信息成像通过一台电脑即可控制及使所有功能。另外，SPM和光谱仪也可以单独控制使用
8稳定性
采用新一代 50 KHz 高频调制 SPM 扫描器，远离生活噪声，具有高信噪比和稳定性
9灵活性
具有顶部、底部、侧向等多个方向拉曼探测能力，满足各方面应用研究需求
2
强有力的的物理、化学结构表征工具
1功能强大
· 可同时进行 SPM 和拉曼光谱测试
· 顶部和侧向均可使用高数值孔径 ×100 物镜，使得同区域测量能获得更高的空间分辨率，针尖增强拉曼 (TERS) 具有高的信号收集效率
· 通过 SWIFT XS 和 EMCCD 探测器可以实现高通量信号收集能力和快速扫描速度
· 宽光谱范围：从深紫外到近红外
· 可选配 HORIBA 拉曼光谱仪系统以获得高光谱性能
2操作简单、快速！
· 一键完成“悬臂梁 - 参考激光”对准及调谐频率优化，无需手动调整
· 换针尖时无需移动样品，换完针尖后还能很容易回到原来样品位置
· 通过物镜扫描器自动完成拉曼激光与 TERS 针尖耦合
· 通过一台电脑即可完全控制
3
操作简单的TERS系统
拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统，同Omni TM 型号的 TERS 探针，可同时获取样品表面形貌和 TERS 光谱。
HORIBA NANO Raman 系统结合 Omni TM 的 TERS 针尖提供了理想的增强方案。
· 适用不同方向的 TERS 耦合 : 顶部、侧向和底部
· 多层结构：针尖优化小化的减少硅衬底中光谱干扰
· 惰性气体包装延长针尖的使用寿命
· 具有特殊保护层的 Ag 针尖能够防止大气环境下氧化
在 TERS 系统，拉曼激光1聚焦到镀有金或银的针尖尖头2，选择合适的激发波长，在针尖十几纳米附近产生局域等离子体共振效应3，拉曼信号强度和局域电场成正比，增强的热点和样品接近就会极大地增强样品的拉曼信号，达到 105 或者 106 4。
拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统，同区域成像测试是在同一个区域内同时或者连续获得 AFM 图和拉曼成像图。
AFM 和其他的 SPM 技术如 STM, 音叉模式（正交力和剪切力）可以提供表面形貌，力学性能，热学性能，电学和磁学性能以及分子分辨率测试，另一方面共焦拉曼光谱和成像提供材料的化学信息，受到空间分辨率的限制。
HORIBA 提供一系列的测试样品包括单壁碳纳米管和氧化石墨烯，适当的分散可以做 TERS 成像。样品用来展示 AFM 的分子分辨率，通过 TERS成像展示 20 nm 的空间分辨率。
4
集成化软件——一个软件控制 HORIBA NANO Raman的数据采集
· 集成化软件：一个软件即可控制HORIBA NANO Raman 整个平台（包括单独AFM、拉曼、光致发光、同区域成像测试和 TERS）
· 强大的 Labspec6 软件：集成多变量分析模块，一键完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析
· 独有的 Spec-top 成像模式：Spec-top为特有的轻敲模式，根据设置的步进轻敲样品，这样既保留了针尖的尖锐度，也提高了 TERS 信号的放大倍数。
· Dual-spec 模式：Dual-spec 可以同时获得近场增强信号和远场拉曼信号，基于差谱的方法扣除远场拉曼信号，获得高空间分辨率的 TERS 成像图
多变量分析：全矩形扫描区域会消耗大量时间，可以在 AFM 图上选择不规则区域来做成像
· 曲线图：力曲线测试反映材料的硬度或者吸附力分布，力学常数
HORIBA NANO Raman系统信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供，如您想了解更多关于HORIBA NANO Raman系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
