HORIBA后记：SERS研究3大分析手段亮相第一届表面增强会议

12月5-9日，表面增强拉曼光谱国际会议 (International Conference on Surface-Enhanced Raman Spectroscopy) 在厦门大学召开，议题涵了SERS的机理及其在电化学、生物与生命科学、痕量检测与分析、食品安全、环境保护、催化、能源、材料等领域的应用。

针对此次会议主题，作为拥有近两百年光学仪器生产经验的品牌，HORIBA为该领域的相关工作人员重点推荐以下三种光谱解决方案，现场受到了不少客户垂询。

扫描探针显微镜（SPM）的出现，使得大气环境中纳米尺度成像成为了可能，材料表面各种物理特性（形貌、电学、磁学等）的表征得以快速发展。然而如何实现无标记的化学结构表征仍是一项挑战。与此同时光学光谱也已成为纳米材料分析的有力工具，但其空间分辨率却受限于光学衍射极限。于是将两种技术联用成为一种极富吸引力的独特方法。不过将两种仪器集成一套完整的方案极具挑战。

基于此背景，HORIBA凭借多年经验开发了NanoRaman整体解决方案。NanoRaman系统可以稳定、便捷的实现针尖增强拉曼光谱（TERS）成像。对于二维材料样品，数分钟内可以完成几千个数据点的TERS成像，在X与Y方向均可以达到10nm的空间分辨率。

12月6日 SERS 大会报告上，HORIBA技术专家鲁逸林博士详细介绍NanoRaman的硬件系统优化（稳定的光路系统、高重复、高灵敏的Ag针尖，）和应用案例（二维材料的缺陷、边界、电势等信息的纳米尺度表征），引起与会者们的广泛关注。

鲁逸林博士做针尖增强拉曼TERS在二维材料中新进展报告

2017年，全球著名AFM生产厂家——AIST-NT正式加入HORIBA。至此，从TERS产品的研发，应用开发到设备安装调试，使用人员的培训和售后服务均由HORIBA统一完成，为广大用户带来便利，降低了沟通成本。

在以纳米颗粒为基础的表面增强光谱研究过程中， HORIBA荧光光谱解决方案不仅可以用于表面增强荧光光谱研究，亦可表征纳米颗粒尺寸大小及其团聚反应。HORIBA拥有丰富的荧光光谱产品线和附件，可进行荧光稳瞬态及量子产率的测量，满足不同的应用需求，软件功能强大，模块化设计便于功能拓展，从而为老师的研究带来更多的可选方案。

在表面增强研究领域中，贵金属颗粒的尺寸大小对散射光谱也有着重要的影响，作为纳米尺度下粒径测量的佳工具，纳米粒度仪当仁不让承担起这个责任。SZ-100纳米粒度仪作为一款卓越的纳米颗粒表征仪器，测量范围低至0.3nm，实现了超宽浓度范围样品测量，即使浓度高达百分之几十，亦可准确测量。无需对样品进行任何稀释和其他处理。

SZ-100 纳米颗粒分析仪

SERS会议全家福

此次表面增强拉曼国际会议由厦门大学李剑锋教授任主席，中科院、厦门大学田中群院士任荣誉主席，总共吸引国内外逾200位SERS研究工作者及15家拉曼仪器厂商参与。会议主要讨论过去40多年SERS在实验与理论方面的发展及其应用，以加强同行之间的交流与合作，推动SERS的持续发展与创新。HORIBA也希望通过自己专业的产品和服务，为未来SERS研究事业更上一层楼继续添砖加瓦。