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单晶硅试样

参考报价: 面议 型号: 多种
品牌: 暂无 产地: 暂无
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单晶硅试样
 
光(电)学显微镜放大倍率校正用单晶硅试样(同时评估图象扭曲度)。5mm x 5mm见方,每10µm (0.01mm)有一方格,格与格之间分割线大约为1.9µm宽,每隔500µm有一稍宽的分隔线,用于光学显微镜检测;分隔线和方格由光蚀刻形成,约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅试样上,从而对光镜(或者低倍电镜)进行内部标定。
可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。
 

产品选购:
货号
产品名称
规格
79502-01
Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样
1
79502-10
Silicon Test Specimen, Unmounted
10/pk
79502-12
Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub
1
79502-20
Silicon Test Specimen for Incident LM
1
79502-30
Calibration Certificate带有认证书的单晶硅试样
1

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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