AFM及扫描探针 原子力显微镜岛津

自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理

  使用标准样品和标准探针时，自动观察模式操作只需5分钟。扫描范围为1um×1um，256×256点阵。操作时长取决于操作者。

传统的原子力显微镜需要手动调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa能够帮助用户轻松完成这些操作，性能优异。从光学显微镜到SPM/AFM，都能清晰地捕捉图像。利用光学显微镜搜索目标区域，再利用SPM便捷地进行高分辨率观察。具备与表面形状图像相同的视场，可以获取其他物理特性信息。样品为硅基底上的二氧化硅图案。

丰富多样的扫描模式，从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析，支持广泛的扫描模式。这意味着可以同时实现高分辨率与物性测试。

利用清晰的光学显微镜图像，更容易搜寻目标区域，不用担心振动的影响。SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。能够观察表面物性、极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异，都可以获得高分辨率的观测图像。

8K成像助力大范围高分辨扫描，最大可支持8K（8192*8192）扫描点阵，即使在大范围区域也能清晰展现小细节。省时高效支持功能，能够通过高速观察和物性高速成谱功能，显著减少观测时间。探针更换工具和样品更换机构有效缩短了扫描准备时间。高通量观测、高速物性成谱采用了可实现高速响应的HT扫描器并优化了控制算法，大大缩短了观察和物性成像的数据获取时间。

简便顺滑的样品更换，高速物性成谱一键式操作实现自动开启、关闭平台，放置和取出样品。激光的照射位置固定，因此在样品更换后可立即进行观察。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途