原子力显微镜AFM及扫描探针SPM-Nanoa

自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理

使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式，扫描范围1um×1um，256×256点阵。操作时间由操作者决定。
传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户轻松完成这些操作，性能出色。从光学显微镜到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉图像。利用光学显微镜搜索目标区域，再利用SPM进行高分辨率观察。利用与表面形状图像相同的视场可以获得其他物理特性信息。样品：硅基底上的二氧化硅图案。丰富多样的扫描模式，从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析，支持广泛的扫描模式。这意味着可以同时兼顾高分辨率与物性测试。
利用清晰的光学显微镜图像更容易找到目标区域，省去了振动的影响。SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。高分辨率观察表面物性，极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异，都可以获得高分辨率的观测图像。8K成像支持大范围高分辨扫描，最大可支持8K（8192×8192）扫描点阵，细节纤毫毕现。省时高效支持功能功能模式高速观察，通过高速观察和物性高速成谱功能，显著减少了观测时间。探针更换工具和样品更换机构有效缩短了扫描准备时间。高通量观测，高速物性成谱采用了可实现高速响应的HT扫描器，并优化了控制算法，从而大幅缩短了观察和物性成像的数据获取时间。简便顺滑地样品更换，高速物性成谱一键式操作实现自动开启、关闭平台，放置和取出样品。由于固定了激光的照射位置，所以在样品更换后可立即进行观察。

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