准确分析含镀层贵金属成分，X射线荧光专利技术轻松搞定！

金属首饰生产公司质检部门的内部会议中，针对近期的贵金属首饰分析问题正在进行热烈的讨论，似乎他们遇到了难题，到底是什么呢？一起来看看！

EDX专利技术解决难题

岛津分析中心申请的中国发明专利《一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法》（ZL 2019 1 0867000.4已获得国家知识产权局授权），专利技术为含镀层贵金属样品成分的无损检测提供了解决方案。

样品中的构成元素经过光源X射线激发后，发出特征荧光X射线，元素含量与荧光X射线强度之间存在着函数关系。基本参数法使用灵敏度系数f为校正因子，灵敏度系数为测试强度和理论强度的比值（f=I测/I理），使用贵金属标准样品进行校准。金属镀层对贵金属基体元素的荧光强度存在不同程度的影响，常规贵金属分析方法中理论强度的计算没有考虑镀层的影响，按照常规贵金属分析方法计算的分析结果会产生偏差。专利技术引入了含镀层贵金属元素的理论强度算法，修正了镀层元素对贵金属基体组成元素理论强度的影响，使得原有的函数关系仍然成立，校正了含镀层贵金属基体成分的分析结果。一次分析，就可以得到镀层厚度、基材贵金属成分的结果。

应用案例分享

取含铑镀层贵金属样品（以黄金镀铑样品为例），分别使用常规分析条件（常规）、专利分析条件（专利）分析含铑镀层黄金样品，统计比较测试结果，评估镀层对测试结果的影响及专利分析条件的修正效果。

表1 对比测试结果

常规&专利测试方法的分析误差比较见图2 。

图2 不同方法分析误差比较

由上可以看出，（常规）分析含铑镀层黄金样品，黄金中贵重金属元素Au的结果偏差较大，并随着镀层厚度的增加，分析偏差值呈现加大的趋势。采用（专利）分析含铑镀层黄金样品，分析结果与参考值结果一致，表明专用分析条件（专利）对含铑镀层黄金样品分析结果有很好的修正效果，可以实现无损的快速分析。

另外，常规方法只能分析成分，专利分析方法可以同时测试出镀层厚度和基材成分。

常规方法分析结果

专利方法分析结果

分析利器

岛津EDX系列仪器有EDX-7000、EDX-7200、EDX-8000、EDX-8100、EDX-LE Plus，岛津EDX系列仪器都可以应对包含镀层的基体贵金属成分分析，以常见型号EDX-7000为例。

EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪特点

EDX-7000能量色散型X射线荧光分析仪

结语

利用岛津EDX系列仪器，可以对含镀层的贵金属基体成分进行定量分析，利用软件算法修正镀层对基体组成元素分析结果的影响，利用标准样品校准系数，提高了分析结果的准确度。专用分析条件（专利）分析结果表明，该方法具有快速、无损、经济、准确等诸多优点。含镀层贵金属成分准确分析，专利技术助力轻松搞定！

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