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光电二极管阵列检测新型分析方法i-PDeA.pdf |
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【摘要】即使是未分离的峰,若使用光电二极管阵列检测器的新型数据解析方法i-PDeA(Intelligent Peak DeconvolutionAnalysis),也可利用光谱差异提取目标峰。i-PDeA通过利用微分光谱色谱图法,即对测量的各时间点的UV-VIS吸收光谱进行微分处理所得的微分光谱的特定波长的值按时间方向标绘的方法,对共同析出峰进行分离。
本文对通过i-PDeA功能,使用微分光谱色谱图法具备的高度选择性,检测出未预料到的杂质混入,去除同时洗脱出的干扰成分的影响、仅对目标成分进行定量的应用事例进行介绍。
【关键字】
PDA数据处理、峰解卷积、微分光谱色谱图法、Nexera X2、UHPLC