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ICP-AES检测工业硅中八种杂质元素

发布时间: 2011-08-02 14:25 来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司
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    本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品,用ICP-AES 法同时测定工业硅中的Cu、Mn、Fe、Ni、Ti、Al、P和B等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好,对产品质量控制及检验杂质元素含量,具有可操作性和很好地应用价值。

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