CMI900|镀层测厚仪

广东正业提供CMI900镀层测厚仪,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.广东正业中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:X-STRATA960,980等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,优质的售前/售后服务和技术支持。

CMI900用于镀层厚度测量以及分析镀层金属成分、镀液，是一款专用镀层测厚仪、（印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等）的非破坏性精确测量及材料成分分析。

CMI900镀层测厚仪用途：

1.多镀层金属厚度测

2.合金鉴定及化学分析

3.电镀液分析

4.金成色分析

CMI900镀层测厚仪特征：

应用X射线荧光原理测量，精确度高且不破坏样品。

NIST（美国国家标准和技术学会）认可的标准片。

CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状，各种尺寸的样品；并且测量点zei小可达0.025×0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用，分别为：标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；扩展型标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制；程控样品台，XYZ轴自动控制；超宽程控样品台，XYZ轴自动控制。

CMI900镀层测厚仪技术参数：

CMI900|镀层测厚仪信息由广东正业科技股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于CMI900|镀层测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途