精微高博比表面仪亮相第50届全国高教仪器展

第50届全国高教仪器设备展示会于今日在南京国际展览中心（江苏省南京市玄武区龙蟠路88号）开幕。北京精微高博科学技术有限公司作为全国高教仪器设备展示会推荐企业再次亮相。届时，在4号馆4N60展位现场展示BK200C、DX比表面测定仪系列产品，期待您的莅临，真诚邀您共与盛典。

JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪，完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“涡轮分子泵”及1Torr(或0.1Torr)小量程压力传感器，配合微孔分析模型的准确应用，完全实现了微孔的精确分析，氮吸附微孔最小孔径实际可测达0.35nm，测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平，性价比极高，非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。

JW-DX型动态吸附比表面测定仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。

北京精微高博科学技术有限公司成立于2004年，是中国新一代动态BET比表面仪、单气路常压动态孔径分析仪、静态容量法比表面及孔径分析仪，高精度静态微孔径分析仪等仪器的原创厂家，是中国比表面及孔径分析仪器行业中唯一的CISILE“自主创新金奖”获得者，被誉为“中国氮吸附仪的开拓者和领航者”。

关于第50届全国高教仪器设备展示会

作为高等教育领域举办时间最长、规模最大、影响力最强的专业品牌展会，全国高教仪器设备展示会创立于1992年秋，上海培清科技就参加了首届展会，以后每年春、秋两届均有参加，延续至今。高教会被誉为中国高等教育系统的“广交会”，教育设备厂家的盛会，已成功举办49届。