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精微高博比表面仪将亮相IPB2016上海粉体展

发布时间: 2016-10-08 11:31 来源:北京精微高博仪器有限公司

第十四届上海国际粉体加工/散料输送展览会(IPB2016)将于2016年10月19-21日在上海跨国采购会展中心拉开帷幕。IPB作为中国粉体和散料领域最大的“一站式”展会,吸引了来自颗粒,粉体和散料加工及输送的百余家企业参展。 

比表面仪知名企业北京精微高博科学技术有限公司应邀参展,国内外热销产品JW-DA 动态智能型BET比表面测定仪、专利产品JW-DX 动态独立吸附法比表面测定仪等产品届时亮相。精微高博展位:1331,欢迎莅临参观交流!

 

关于精微高博

北京精微高博科学技术有限公司是知名的材料科学家钟家湘教授领衔创建的、集研发、生产、销售于一体的国家级高新技术企业。精微高博在国内率先研发成功动态全自动比表面仪、BET比表面仪、阶梯法动态比表面仪、単气路常压孔径分析仪、静态容量法介孔分析仪、静态四站比表面测定仪、高性能静态微孔分析仪、气体法真密度仪、高压吸附仪等,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”,是我国微纳米新材料表征与测试仪器领域的领航者。 

  JW(精微)品牌已成为国内外知名品牌,用JW仪器数据撰写的论文发表于国际、国内很多知名杂志,为国产仪器走向国际开辟了道路。JW产品已远销欧洲、日本、巴西、印度、泰国、蒙古、朝鲜等十余个国家。


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