高性能比表面仪亮相2013春季高教展

  2013年4月25日，全国春季高教仪器设备展示会在江西南昌国际展览中心拉开帷幕。北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪（型号：JW-BK132F）亮相展会，引来众多老师围观。

精微高博展台D194
 

    精微高博此次带来的比表面仪产品，主要是面向高等院校的高效研究型的物性分析仪，特别适合于新材料及新产品的研发，测试精度高，重复精度≦±1%，微孔最可及孔径重复偏差≦0.01nm；仪器全自动智能化，具有近十种物理模型及完善的分析软件，操作简单，有利于学生更好的了解与掌握比表面积及孔径分布的相关知识及其应用，引发学生学习兴趣。对部分老师的咨询，精微高博员工都热情的给予了详细解答，并介绍了仪器技术的先进性及简单的操作流程，得到了参观者的一致认可和高度赞许。
 

    精微高博高度重视产品技术的先进性与质量的稳定性，把不断提高产品质量、保持技术先进性作为不懈追求的目标。在与国际接轨的静态仪器方面，精微高博技术团队在钟家湘教授的带领下，深入进行基础理论研究、测试关键部件的优化设计、自由空间的准确测定、测试系统温度的全程监测与修正，使仪器的测试精度始终在国内遥遥领先；集国内最高水平的研究成果，独家开发出非定域密度函数（NLDFT）孔径分析软件，赶上了国际先进水平，填补了国内空白。

高性能比表面及孔径分析仪
型号：JW-BK132F