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精微高博比表面及孔径测试仪荣获中国计量院测试证书
发布时间：
2009-07-15 02:01
来源：北京精微高博仪器有限公司
2009年7月1日，北京精微高博JW-BK型静态容量法比表面积及孔径分析仪，荣获了中国计量科学研究院的测试证书【见附件】。中国计量科学研究院测试依据是国家标准GB/T21650.2 第二部分 气体吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587 气体吸附BET法测定固体物质比表面积，用国产JW-BK型仪器测定美国特制的孔径标准样品，测试结果充分证明了国产JW-BK型仪器测量精确度高，重复性好，标志着其性能已达到国际先进水平，完全可以代替进口。
在中国，本次检测是对国产孔径分布测试仪器的首例检测，无疑是对JW-BK型比表面积及孔径分析测试仪质量的有力鉴证,也是对那些故意攻击国产比表面积及孔径分布仪技术不过关、不成熟人们的迎头一击。
【附件】测试证书
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