蔡司推出3款新型场发射扫描电子显微镜

蔡司增强其场发射扫描电镜，以满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的最高要求

蔡司推出三款新型场发射扫描电子显微镜和新型蔡司Gemini 3 镜筒

蔡司推出新一代场发射扫描电子显微镜（FESEM）系列ZEISS GeminiSEM。新型号蔡司 GeminiSEM 360、460 和 560 专为亚纳米成像和轻松分析而量身定制。用户受益于电子光学的创新和新的腔室设计，提供更好的图像质量、可用性和灵活性。现在推出的蔡司GeminiSEM 560首次将蔡司Gemini 3镜筒推向市场。

新型蔡司GeminiSEM系列可提供任何样品的更多信息，最大程度地减少样品损坏并防止样品伪影。这三种型号均采用全新的腔室设计，使研究人员能够比以前引入更大和更多的样品，从而使核心设施现在可以在一台仪器中为更多的分析应用提供服务。蔡司Gemini双子座电子光学镜筒的独特设计以及大而灵活的新型反应室，可满足所有成像和分析需求。较大的腔室可实现可配置性和灵活性，以适应即将到来的研究任务并优化分析工作流程。

新型电子光学镜筒和智能自动操控仪

蔡司GeminiSEM 560设定了表面成像的新标准。引入了带有纳米双透镜的新型蔡司Gemini 3电子光学器件及其新型电子光学引擎Smart Autopilot，该器件经过定制，可在以高分辨率对最敏感的样品成像时易于使用。在蔡司GeminiSEM系列产品中，560型在所有工作条件下均可提供最高分辨率，并在着陆能量低于1 kV时突破了浸没和无单色表面成像的极限。

非导电矿物蒙脱石在断裂表面上的纳米级特征，在低着陆能量下可视化，蔡司GeminiSEM 560，Inlens SE图像，800 V，比例尺为100 nm。

新的光学引擎结合了新的自动功能和获得专利的自动对焦功能，极大地提高了系统的性能和效率。在核心设施中，即使没有新手用户也可以在没有首席技术人员或设施经理支持的情况下获得最佳结果。

在成像和分析中提高效率和易用性
该系统可以轻松地从标准设置过渡到高级设置。新的概览模式简化了样品的定向。用户可以轻松地从低放大率导航到高放大率，而无需调整列的对齐方式。该系统可提供同类产品中最大的无失真视场。这样就可以对大型的，具有挑战性的样品进行成像，例如材料研究中的磁性样品。改进后的自动功能是目前世界上最快的，其自动对焦功能可在不到一秒钟的时间内提供聚焦图像。

磁性铁锰纳米颗粒，其中一个长方体颗粒的边缘长度约为 25 nm，在低加速度电压下成像，蔡司 GeminiSEM 560，Inlens SE 图像，1 kV，比例尺 60 nm。

蔡司研究显微镜解决方案主管Michael Albiez博士说：“该产品的发布重新定义了高端FESEM成像，推动了业界领先的Gemini光学器件的发展，并将这种能力掌握在客户手中，从而实现了科学突破。”