捷欧路诚邀您参加 2017BCEIA

发布时间： 2017-09-28 09:52 来源：日本电子株式会社(JEOL)

由中国分析测试协会主办的北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”)，于1985年经国务院批准召开,每两年一届，秉持“分析科学创造未来”的发展动力，坚持国家战略需求和科学探索目标相结合，历经30年的培育和发展，已成功地举办了十六届。现已成为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会，在促进国际间的科学技术交流，推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到了重要作用。

第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2017）将以“分析科学创造未来”的方向，围绕“生命生活生态—面向绿色未来”的主题组织学术报告会、专题论坛和仪器展，使BCEIA更贴近社会发展的需要。

捷欧路届时，将在展会期间展示多种类扫描电子显微镜，欢迎广大客户莅临展位，指导交流。

展会时间：2017年10月10-13日

展会地点：国家会议中心

捷欧路展位：21065-21070

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