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日本电子株式会社发布最新场发射双束FIB JIB-4700F

发布时间: 2017-01-05 10:42 来源:日本电子株式会社(JEOL)

201715日日本电子株式会社全球同步发布新一代场发射双束FIB JIB-4700F

场发射双束FIB近年来市场增长较快,JIB-4700F采用JEOL专利的大束流长寿命电子枪,束流强度可高达300nA,在保证高压和低压分辨率的同时,分析效率大大提高,另外离子束流最高也可达到90nA以上制样效率显著提高。

JIB-4700F是一款高分辨,高速分析、高速加工的三合一平台,可实现光镜与电镜的无缝连接。

详细信息请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路(北京)科贸有限公司在各地的分部。


标签:场发射 FIB
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