会议邀请：
在许多应用领域，如可再生能源（光伏或氢气技术）、航空航天和电子领域，半导体（尤其是硅）是必不可少的基础材料。为了保证高效率和产品质量，以杂质的识别和定量、缺陷的检测或光学器件的功能测试为形式的硅质量控制成为半导体工业中一项关键而艰巨的任务。
在免费的两部分网络研讨会中，我们将向您介绍使用傅立叶变换红外光谱进行半导体质量控制的高灵敏度解决方案，欢迎届时参加。
主题：
High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
语言：英文（English）
时间：
| 第一部分 | 6月14日(周一) 晚上10点-11点 |
| 第一部分（重播） | 6月15日(周二)下午3点-4点 |
| 第二部分 | 6月21日(周一) 晚上10点-11点 |
| 第二部分（重播） | 6月22日(周二)下午3点-4点 |
（以上为北京时间）
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