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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | ATS-710-M |
品牌: | inTEST- Temptronic | 产地: | 美国 |
关注度: | 9 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 一般经销商 |
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上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试
上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M
高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至
+225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
上海伯东客户现场图片:
鉴于信息保密,更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例,欢迎拨打客服热线:021-5046-3511!
上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer真空设备;美国 Polycold深冷泵;美国 KRI考夫曼离子源;美国 HVA真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS离子蚀刻机等。
上海伯东半导体芯片温度测试信息由伯东企业(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于上海伯东半导体芯片温度测试报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途