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上海伯东半导体芯片温度测试

参考报价: 面议 型号: ATS-710-M
品牌: inTEST- Temptronic 产地: 美国
关注度: 9 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
产地类别进口供应商性质一般经销商
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上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试
上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M 高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)

inTEST-Temptronic
上海伯东客户现场图片:

inTEST-ATS-710-M-7
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上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer真空设备;美国 Polycold深冷泵;美国 KRI考夫曼离子源;美国 HVA真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS离子蚀刻机等。


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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