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德国zei新动态颗粒图像分析仪

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参考报价: 面议 型号: QICPIC
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 96 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

与静态图像分析仪相比,动态图像分析仪QICPIC有如下优点:
 可以使单次测试的样品量增加,减少在取样方面的误差;
 单位时间内测量的颗粒数量的多,增加测试结果的统计代表性;测试得到的数据多;
 QICPIC是在1微米到10毫米范围内对颗粒进行粒度测试和形状分析的zei好的图像分析仪;
< 1ns的曝光时间和快速清晰的图像收集,首次可以同快速高效干法分散系统配合使用;
 < 60秒的分析时间和每秒500帧的捕捉速率,保证了测试的大量数据的有效性;
 测试的大量数据,保证了不丢失任何有效的信息,令测试结果更有说服力;
 基于Windows2000, Windows XP的WINDOX5数据处理系统,不仅可以处理QICPIC测试的数据,还可以将这些数据同HELOS/MYTOS, OPUS/NIMBUS和NANOPHOX相对照



技术参数:

原理:图像处理,在颗粒运动过程中进行动态测试
测试范围:1μm-10000μm
光源:脉动光源
每个脉冲的时间:<1ns
镜头架的镜头:从3:1到1:10,包括自动对焦系统
分析系统:
高速照相系统 :1024×1024像素
256 灰色标度
捕捉频率 :zei高500帧/秒
数据传输:双向线缆,1.25Gbit/秒, zei长可达5米。
数据处理:可得到粒度大小、粒度分布及选择不同的粒度表征方式如:球当量直径、矩形相当径、轴径、Feret径、Martin径等
颗粒形状:
可选择不同角度动态观察颗粒的形状 ,测试结果可重现。
操作软件: 基于WINDOWS2000/XP的WINDOX5操作软件
质量保证体系:
质保书: 随每台仪器附原厂质保书
标准样: SiC-P600 (X50=27µm)
SiC-P80 (X50=247µm)
SiC-P50 (X50=420µm)
同美国FDA一致: 21CFR Rule 11



主要特点:

1.可对快速动态图像进行全方位的分析
2.信息搜集全,测试结果好
3.根据不同行业的要求,对测试结果进行不同的分析
4.可以得到以各种粒度参数表征的粒度分布: 如Ferrit径,等效圆面积径, 等效圆周长径等等
5.操作简便,人为影响因素小

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