仪器简介：采用新开发的双模式分析器，从数秒至数十秒的时间内得到数μm以下的高分辩元素图，化学状态图，是真正的成图XPS。并且，若在图像上以鼠标点击指定分......
仪器简介：可分析30μm以下的微小区域，同时，可进行XPS成图，观测到不同结合状态的分布图，是高性能的XPS。技术参数：●灵敏度：Ag3d5/2 450......
仪器简介：对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分......
仪器简介：重视基本性能、超紧凑设计的ESCA。测定操作简单，可自动分析多种样品，适于质量管理分析与生产管理分析。备有用于快速深度方向分析的离子枪(选配)。技术......
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