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多元素同时测定 检出限低:可以达到0.1-10ppb,甚至更低 分析的浓度动态线性范围宽,可达5-6个数量级 化学干扰少,准确高, RSD≤2% 分析速度快,分析成本低
天瑞仪器 半导体晶片、陶瓷材料测定 ICP-2000电感耦合等离子体发射光谱仪
型号:ICP-2000
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