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M&M 2018丨这里有一台最新的 Xe FIB-SEM 'S9000X' 即将发布！
发布时间：
2018-08-03 13:28
来源：TESCAN（中国）
作为电子显微镜行业的全球供应商，TESCAN 将携多款扫描电镜、聚焦离子束系统、多维 X 射线 CT 显微镜及联用扩展分析技术亮相本次大会，并隆重发布 TESCAN 最新一代 Xe 等离子双束电镜系统 S9000X ！
“M&M 2018”（M&M,Microscopy and Microanalysis）将于2018年8月 5日-9日在美国马里兰州的巴尔的摩市召开。M&M是由美国显微学会MSA（MicroscopySociety of America）主办的全球最大的显微技术和分析科学大会，每年举办一次。
TESCAN作为电子显微镜行业的全球供应商，将携多款扫描电镜、聚焦离子束系统、多维X射线CT显微镜及联用扩展分析技术亮相本次大会，并隆重发布TESCAN最新一代Xe等离子双束电镜系统S9000X！
在午餐和发布会期间，还有来自TESCAN的科学家们带来前沿显微技术及应用讲座。在TESCAN展台，我们也为参观者提供了现场的样品检测演示。
△ 将现身 M&M 2018 的 TESCAN 产品
展览会日期：2018年8月5日~9日
展览会地点：美国·马里兰州·巴尔的摩
届时，欢迎前去参展的各种专家学者莅临 TESCAN BOOTH #413 参观交流！
TESCAN Program Schedule & Overview
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