TESCAN“TOF-SIMS联用技术研讨会”在核工业北京地质研究院圆满举办

由TESCAN公司与核工业北京地质研究院分析测试研究所联合主办的“2017年TESCAN TOF-SIMS联用技术研讨会”于2017年11月14日在核工业北京地质研究院成功举办，TESCAN邀请了业内电镜和质谱分析的专家学者们共同分享和交流最前沿的技术进展和应用。核工业北京地质研究院分析测试研究所郭冬发所长、书记范光研究员、TESCAN中国技术总监焦汇胜博士以及TESCAN全球应用总监Ond?ej ?ulák博士出席。

TOF-SIMS联用技术研讨会现场

核工业北京地质研究院分析测试研究所是以核能材料、放射性标准物质的制备、地质矿产和环境分析测试技术研究与服务为主的综合性检测实验室技术机构，也是核工业地质行业的仲裁分析测试实验室，研制和保管着天然放射性成分分析国家最高标准物质，具有国家计量认证资质认定证书和国家实验室认可证书，是地质行业同位素分析、微束分析等领域的权威机构，在质谱技术领域有着深厚的沉淀。

会议伊始，核工业北京地质研究院分析测试研究所郭冬发所长向参会的专家们表达了热烈的欢迎，郭冬发所长表示，通过技术研讨会进行交流分享的形式，能够更好的推动这些创新技术在各领域研究中的应用。目前，中心实验室已拥有包括热电离质谱仪、高分辨电感耦合等离子体质谱仪、电子探针、稳定同位素质谱、惰性气体同位素质谱等在内的多台大型仪器设备以及核地研院自主研制的多台分析设备。

核工业北京地质研究院分析测试研究所郭冬发所长

作为一家专注于提供微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国公司，TESCAN在近几年内的发展十分迅速，高端设备的市场占有量逐年迅猛增长，在有些领域甚至已经独占鳌头。TESCAN目前已建立起全球的销售和服务网络，在捷克、法国和美国已拥有4家研发中心、2个生产基地以及6家海外子公司。

来自于TESCAN捷克总部的Global Application Director Dr. Ondrej Sulák介绍到，TESCAN的高速发展离不开深厚的技术积累以及创新的产品研发思路，TESCAN拥有多项创新产品，其中包括了扫描电子显微镜与拉曼光谱一体化系统（SEM-RAMAN）、聚焦离子束与飞行时间质谱一体化系统（FIB-SEM-TOF-SIMS）以及氙等离子超快速FIB系统和超高真空的FIB系统。

TESCAN全球应用总监Ondrej Sulák博士介绍TESCAN公司

随后，TESCAN应用专家Mr. Jakub Javurek、李景女士以及核工业北京地质研究院分析测试研究所葛祥坤老师、杨亚楠老师分别做了题为《FIB-SEM Chemical Mapping with Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)》、《飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS联用应用》、《Application of combined FIB-SEM and TOF-SIMS》、《Enhanced Application of LG-SIMS by its Better Eye》的精彩报告，并和参加研讨会的老师们展开了热烈的沟通和交流。

TESCAN应用专家Mr.Jakub Javurek

TESCAN应用专家李景女士

核工业北京地质研究院分析测试研究所葛祥坤老师

核工业北京地质研究院分析测试研究所杨亚楠老师

参会专家与报告老师积极互动

上午精彩的报告结束之后，专家老师们参观了核工业北京地质研究院分析测试所设备实验室，TESCAN应用专家Mr. Jakub Javurek为大家了详细讲解和演示了TESCAN双束电镜-二次离子质谱（FIB-SEM-TOF-SIMS）一体化系统以及软件的功能和使用，并为感兴趣的老师现场测试了样品，带老师体验了这一套创新系统的强大和便捷。

专家老师参观实验室

参会老师合影留念

2017年TESCAN“TOF-SIMS联用技术研讨会”圆满结束，感谢核工业北京地质研究院分析测试所的专家和老师们的大力支持，希望未来能够和更多的专家老师们沟通交流，更好的推动这些前沿创新技术在各领域研究中的应用，帮助科研和新应用、新方法的开发。