400-6699-117转1000
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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | EA1000VX |
品牌: | 日立分析仪器 | 产地: | 日本 |
关注度: | 152 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
供应商性质 | 总代理 | 产地类别 | 进口 |
仪器种类 | 台式/落地式能散型XRF | 价格范围 | 50万-100万 |
行业专用类型 | 通用 |
分析含量范围 | PPM | 能量分辨率 | 小于140eV |
元素分析范围 | 原子序数13(AI)-92(U) | 重复性 | ±0.01% |
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品名 EA1000VX X射线荧光分析仪
型号 EA1000VX
概要
本台仪器是对应环境限制物质管理、可高速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。通过高速测定和材料辨别等各种新功能,检测效率得以大幅提高。也可对应膜厚测量以及贵金属分析等常规分析。
特长
EA1000VX产品规格 | |
测量元素 | 原子序数13(Al)~92(U) |
样品形态 | 固体・粉末・液体 |
X射线源 | X射线管球(Rh靶) 管电压:15kV 、50kV 管电流:1mA(10μA~1000μA可变 ) |
X射线照射方向 | 下方照射方式 |
检测器 | Vortex Si半导体检测器(无需液氮) |
准直器 | Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换) |
样品观察 | 彩色CCD摄像头 |
样品室 | 370(W) ×320(D) ×120(H)mm |
滤波器 | 5种模式自动切换(包含OFF) |
操作方式 | 笔记本或台式电脑 |
软件 | ・X-Ray Station 定性分析(能谱测量,自动辨别,KLM标示表示,比较/差异表示, 定量分析(块体FP法,块体检量线法) 常规测量 ・环境限制物质测量软件 Ver.2(增加新功能) |
数据处理 | Microsoft® Excel、Microsoft® Word |
使用电源 | AC100~240V ±10% 单相 |
附件 | 样品杯2种(液体样品和微小样品用) |
选购项 | ・薄膜FP软件 ・薄膜标准曲线软件 ・能谱匹配(已登陆的标准物质能谱的比较) ・环境限制物质测量软件 Ver.1 ・各种标准物质(各种环境管制用标准物质,无铅焊锡标准物质,无铅焊锡箔标准物质) ・警示灯 ・打印机 |
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