日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪

日立FT110A概要：

自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。

通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果。 

型号名称：FT110A

测量元素：原子序数22（Ti）~83（Bi）

检测器：比例计数管

X射线管：管电压：50kV    管电流：1mA

准直器：4种（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm）

样品观察：CCD摄像头（可进行广域观察）

X-Ray Station：电脑、19英寸液晶显示器

膜厚测量软件：薄膜EP法、标准曲线法

测量功能：自动测量、中心搜索

定性功能：KL标记、比较表示

使用电源：220V/7.5A

1.自动对焦功能 自动接近功能

   在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。

    ●自动对焦功能    简便的摄像头对焦

    ●自动接近功能    最适合位置的对焦

2.通过新 薄膜FP法提高测量精度

   实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便。

    ●新 薄膜EP法    

      减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

      无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量

    ●自动对焦功能和距离修正功能    

      凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

    ●灵敏度提高

      镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

    ●生成报告功能

      一键生成测量报告书

3.广域样品观察

对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。

    ●广域图像观察    轻松定位

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途