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领域: | 纳米材料 | ||
资料类型: | 其他资料 |
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不同低聚糖铁纳米颗粒的DLS、ELS和SAXS表征 |
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DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术,能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外,可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷,从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治疗的不同铁—碳复合物,突出了这三种技术的互补性。