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其它光学测量仪
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Norcada提供科学领域的mems器件的定制设计和制造,以满足客户的具体要求。这种定制设计包括非标准尺寸、较薄的膜、多窗口阵列和带图案电较为的窗口,同时还可以......
光学表面缺陷分析仪
一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料,又......
WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
一、用途 (1)二、三维表面形貌测量 (2)膜厚和台阶测量 (3)刻线和沟槽尺寸测量 (4)任意曲面形貌测量 (5)球面和非球面轮廓非接触测量 (6)MEMS......
WIVS-II型
仪器的原理,主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同,其区别如下: 1 、干涉显微镜为自主设计,具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组,......
光学轮廓仪WIVS-I
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响,触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制,对于峰峰值很小的表面,触针很难伸到谷底,测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量,锋利......
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上海纳腾原位MEMS芯片和同步辐射Holder 应用于光学领域Norcada提供科学领域的mems器件的定制设计和制造,以满足客户的具体要求。这种定制设计包括非......
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