仪器简介：

瑞士CSM仪器公司的UNHT型超纳米压痕仪在满足常规纳米压入测试需求的基础上，更为对低热漂移、小载荷压入与高精度位移测量与控制等有较高需求的用户设计制造。它拥有专利的主动参比测量系统及多电容传感器以监控压入载荷和压入深度，并实时消除噪声和热漂移等微小误差。UNHT型超纳米压痕测试仪是市场上现有的zei精准的纳米与超纳米尺度动态压痕测试仪器。在小尺度蠕变、软材料、生物材料、超薄膜、弛豫、弹性体等应用领域性能尤为突出。

正弦加载压入模式（Sinus 态机械分析模式）
正线加载入模式可以通过其动态的测量过程给出材料更为完整的力学信息，例如材料的粘弹性。这种加载模式可以给出材料硬度、弹性模量、存储模量和损失模量等信息随压入深度的连续分布曲线。

 
瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括：
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）；
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ；
包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ；
zei简便易用的膜厚测试仪；
用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

技术参数：

zei小有效加载载荷： 25uN
zei大有效加载载荷 100mN
有效载荷分辨率 1nN
zei小接触力 100nN
zei大压痕深度 100um
位移分辨率 0.0003nm
位移信号噪声水平 0.03nm
位移信号稳定水平（或热漂移） 0.008nm/sec
加载模式 高精度压电驱动加载
位移测量  电容传感器
符合ISO 14577-1，2，3国际标准
加载模式：
线性加载，连续加载卸载，二次项加载，恒应变速率加载，位移控制加载
正弦加载（DMA模式）：
能够通过一次压痕获得接触刚度、硬度和弹性模量随压痕深度的连续函数分布；
能够测量材料的储存模量、损耗模量和阻尼
能够在压入过程中通过反馈系统保持恒定的简谐位移振幅。
简谐力频率范围: 1Hz to 200Hz


XY 工作台： 120 x 20 mm ，245 x 120 mm (OPX+)
XY 工作台位移分辨率 ：0.25 μm ，0.10 μm (选件)
光学显微镜放大倍率： 200x, 4000x
光学显微镜摄像镜头： 彩色 768 x 582*

主要特点：

特点
主动参比测量设计实时扣除热漂移等伪位移信号 
超低热漂移
深度与载荷信号的电容传感器测量
双压电加载装置（更加可靠的设计）
双载荷传感器（闭环力反馈系统）
符合国际标准ISO 和 ASTM
集成自动光学测量系统
带有反馈系统的载荷加载装置
仪器操作系统软件包

可扩展选项
真空或湿度环境控制
原子力显微镜
高分辨率工作台 (精度0.25微米)
高分辨率CCD光学显微镜
环境保护罩

超纳米压痕仪信息由瑞士CSM仪器股份有限公司北京代表处为您提供，如您想了解更多关于超纳米压痕仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途