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| 参考报价： | 面议 | 型号： | 005 |
| 品牌： | 暂无 | 产地： | 暂无 |
| 关注度： | 14 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies.
设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试.
•广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO.
•膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高达12”直径自动 mapping 功能，软件功能强大.
光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies.
设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试.
•广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO.
•膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高达12”直径自动 mapping 功能，软件功能强大.
光谱薄膜测试仪信息由瞬渺科技（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于光谱薄膜测试仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
