薄膜厚度测量仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。了解详细信息，敬请致电济南兰光0531-85068566

 薄膜厚度测量仪特　　征
 微电脑控制、液晶显示
 菜单式界面、PVC操作面板
 接触式测量
 测头自动升降
 自动进样
 手动、自动双重测量模式
 数据实时显示、自动统计
 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差
 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
 标准接触面积、测量压力（非标可选）
 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差
 标准量块标定
 RS232接口
 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 

薄膜厚度测量仪技术指标
 测量范围：0～2mm
 　　　　　0～6mm；12mm（可选）
 分 辨 率：0.1μm
 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
 　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
 进样步距：0～1000mm
 进样速度：0.1～99.9mm/s
 电　　源：AC 220V 50Hz
 外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
 净　　重：32kg

薄膜厚度测量仪标　　准
 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
 配　　置
 标准配置：主机、标准量块一件
 选 购 件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途