X 射线分析显微镜用于金属颗粒物分析 -XGT-5000

领域：地矿/钢铁/有色金属    样品：金属颗粒物    项目：成分分析   

在很多不同的领域均要求迅速地分析微小颗粒物。如上文所述，配备有 10µm 及其他尺寸束斑的X 射线分析显微镜非常适用于此类分析。另外，自动XY 轴扫描使得使用者一次性获得大量的颗粒物信息，并迅速找到感兴趣的区域。EDXRF 的定量分析功能可判别不同的金属和合金。