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XR-100CR是一种新的高性能X射线探测器,包括前置放大器和制冷系统,通过热电法冷却的Si-PIN光电二极管作为X射线探测器。在二级制冷系统上还装有输入场效应管和一个新型的反馈电路。这些组件大约-55的环境下工作,其温度由一个内置的温度传感器控制。探测器的密封TO-8包装有一个钵薄膜窗口,用于软X射线探测。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破,可提供"现成的"结果,而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。 X射线荧光 ROHS/WEEE标准 便携式仪器 原始设备制造 核医学成像 教学研究文物考古 程控 穆斯堡尔谱仪 空间物理和天文学 环境X射线检测 有毒物垃圾场监测 粒子诱发X射线荧光分析 XR-100CR ◇149eV的分辨率,全固态无液氮设计 ◇SI-PIN光敏二极管,二级热电冷却器 ◇内置温度控制监测检测器,密封的铍检测窗 ◇检测范围广,操作简单 XR-100SDD ◇高计数率——5000,000 CPS ◇对峰值5.9keV的分辨率为139eV ◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1 ◇规格为:7 mm2 * 500 µm ◇无液氮 XR-100CdTe ◇CdTe二极管探测器,热电冷却器(Peltier) ◇FET冷却,温度监控器 ◇铍检测窗,密封包装(TO-8) AXAS 系统 AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的超快MCA和SDD (硅漂泊二极管)。利用MCDWIN MCA 软件,AXASMCA可以成为非常小的完全分光计,从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据,因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。 XR-100CR详细参数探测器类型:硅针探测器(Si-PIN)探测器尺寸:5 mm2---25 mm2硅厚度:300µm,500µm,680µm能量分辨率(5.9kev,55Fe):半峰宽145eV-230eV(取决于探测器种类和形成时间常数)背景记数:〈3*10-3/s,2KeV-150KeV(针对7mm2/300um探测器)探测器铍窗厚度:1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)电荷敏感前置放大器:用户定制设计增益稳定性:〈20PPM/(典型)尺寸:3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)重量:4.9盎司(139克)总功率:〈1瓦器件寿命:5-10年操作环境:0-40认证:TUV前置放大器功率:正负8-9V,15mV(不超过50mV的蜂噪音)探测器功率: 100V-200V,1µA(取决与探测器类型),非常稳定,偏差〈0.1%制冷器功率:电流最大值为350mA,电压最大值为4V(峰噪音〈100mV,)前置放大器灵敏度:典型值1mV/KeV(对于不同的探测器可能有差异)前置放大器极性:负信号输出(最大负载1K欧姆)前置放大器反馈:通过探测器电容进行重置温度监控灵敏度:PX4通过软件直接读取开尔文温度
普科生 XR-100CR X射线探测器 ,XR-100CR
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