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应用:
Material Science Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS Aerospace Automotive Pharma & Biotech
技术参数:
德国KSI提供了zei新的第二代超声波扫描(SAM), 公司拥有强大的设计应用团队,在超声波领域超过20年的经验。
其设备主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构,杂质颗粒,
夹杂物,沉淀物, 内部裂纹,分层缺陷,空洞,气泡及空隙等.
主要特点:
非破坏性、无损伤检测内部结构;
可分层扫描、多层扫描;
实施、直观的图像及分析;
缺陷的测量及百分比的计算;
可显示材料内部的三维图像;
对人体是没有伤害的;
可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等)
KSI超声波扫描(SAM),
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