您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标:薄膜厚度,光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。
系统性能参数:
技术参数:
MProbe NIR薄膜测厚仪,MProbe NIR
MProbe NIR薄膜测厚仪信息由铂悦仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于MProbe NIR薄膜测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
便携式探头
MAI显微镜适配器
显微反射膜厚仪MProbe MSP
Map薄膜厚度测绘仪
EC-770F 铁基涂层测厚仪
EC-770N 导电金属基涂层测厚仪
MProbe NIR薄膜测厚仪
MProbe RT薄膜测厚仪
群组论坛--分析仪器
您可能要找:semiconsoft在线测厚MProbe NIR薄膜测厚仪价格MProbe NIR在线测厚参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号