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共聚焦荧光显微镜升级
德国Becker&Hickl GmbH公司自1993年成立之初,便推出了基于TAC-ADC技术的时间相关单光子计数器,该技术将时间相关单光子计数的速度提升了百倍以上,从而使该 技术可以更广泛的用于多种应用中。比如荧光寿命成像,1996年的时候便成功将该技术应用于第一个荧光寿命成像应用当中,并先后推出了针对 ZEISS,LEICA,Nikon,Olympus等各大显微镜厂商共聚焦显微镜的荧光寿命成像升级方案,从而帮助共聚焦显微镜的用户更容易的实现荧光 寿命成像等相关实验。
FLIM systems for Zeiss LSM 710/780
z轴扫描FLIM成像
多光子NDD FLIM
共聚焦FLIM
单探测器系统
多探测器系统
多光谱FLIM探测系统
磷光寿命成像Phosphorescence lifetime imaging
Mosaic FLIM
FLIM序列采集可达2帧/秒
时间标签记录和柱状图模式
FIF成像模式(大视场成像)
Descanned FLIM Systems for Leica SP2 and SP5 Multiphoton Microscopes
Descanned detection systems
Detection via X1 port of microscope
High efficiency for thin samples
High suppression of bacground light
single detector system and dual detector systems
multi-spectral FLIM systems
PMC-100, H7422, ultra-fast MCP PMT, Multispectral PMT modules
Detectors protected by shutter and by overload shutdow
single-channel and dual-channel(parallel detection) TCSPCsystems
On-board image acquisition and time-tag imaging modes
Electronics integrated in bh simple-Tau 150 or 152 or standard-PC systems
Instrument and data analysis software for windows 2000, XP, Vista, win 7
FLIM Systems for Olympus FV1000 confocal Microscopes
采用405nm或者473nm等皮秒脉冲激光器
共聚焦FLIM成像
探测器直接耦合,耦合效率高,信号损失少
单探测器或多探测器系统
多光谱荧光寿命成像系统
探测器过载保护
光纤耦合SPAD探测器
单通道或多通道FLIM系统
On-board image acquisition and time tag imaging modes
Electronics integrated in BH simple-Tau 150, 152, 830 or standard-PC systems
instrument and data analysis software for Windows 2000, XP, Vista or Win 7
FLIM Systems for Nikon C1, A1 Scanners
The Nikon C1 scanner and A1 scanner use fiber coupling both for the laser input and for the output to the detector.
可以采用405nm, 440nm, 473nm,488nm, 515nm或640nm皮秒脉冲激光器
探测器采用光纤耦合或直接耦合
单探测器或多探测器FLIM系统
多光谱FLIM系统
探测器过载保护功能
除上述显微镜外,也可以在其他激光扫描共聚焦显微镜上进行FLIM升级升级时需要显微镜提供:
显微镜使用皮秒脉冲或者飞秒激光器
显微镜可以耦合皮秒脉冲激光器
显微镜具有可以耦合单光子探测器的荧光出口
显微镜可以提供扫描时钟信号
共聚焦荧光显微镜升级,FLIM systems for Zeiss LSM 710/780
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