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微量样品一步加样
凭借卓越的称量传感器、较高的量程和出色的稳定性,只需一步即可将微量样品直接加入去皮重容器中。
一次即准的称量结果
通过整合StatusLight™、LevelControl与GWP Approved协同工作,确保获得的称量结果准确无误且经过审核验证。
利用StaticDetect™避免隐藏错误
当在样品和容器上检测到静电荷时,将发出警告。可选的去静电装置能在数秒内自动消除电荷。
规格 - 分析天平 XPR36
梅特勒托利多 分析天平 XPR36 , XPR36
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