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仪器简介:
德国FRT测量系统(白光干涉仪)应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓,表面粗糙度,平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合研究开发和生产质量控制。 仪器使用光学白光色差传感器进行非接触无损伤测量,工作距离大,快速输出2D或3D测量数据。 应用范围:半导体晶片加工检测;钠米刻蚀和操作;MEMS;IC封装;汽车制造系统;复合材料分析;生物分析;磨擦分析;薄膜厚度测量,微细结构分析等。
详细技术参数:
应用链接: http://oecsh.cn/oecsh/2009-11-28/1259377431d49.html 测量原理 白光干涉测量 测量物镜 10X 20X 50X 垂直测量范围: 100um (400um可选) 垂直分辨率: 0.1nm X,Y测量范围:1.6X1.2mm 0.8X0.6mm 0.32X0.24mm 工作距离: 3.6mm 3.6mm 1.7mm 侧向分辨率: 2.5um 1.25um 0.5um
测量速度快,垂直分辨率可达0.1nm
测量特点: 1、 非接触表面形貌测量。 2、 亚纳米级高分辨率。(sub nanometer) 3、 非常快速三维测量。 4、 能测量高反射、粗糙及复杂结构的表面形貌。
白光干涉仪,MicroProf WLI
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