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• 峰值量子效率>95%
• TE 制冷,*低-100℃
• UltraVac™ 真空密封技术,保证5 年真空质保
• 单光窗设计,将光损失降至*低
• Fringe suppression 技术(条纹抑制),消除背感光CCD的etalon( 干涉)效应
• Dual AR 双镀膜选项,同时提升紫外及近红外波段量子效率
iDus 420系列光谱CCD探测器技术参数指标:
型号
DV420A
DU420A
DU420A-Bx-DD
芯片类型
BV:背感光,可见波段优化
BU:背感光,紫外增强350nm 优化
BU2:背感光,紫外增强250nm 优化
BVF:背感光,可见光波段优化以及消除近红外etalon 镀膜
OE:开放电极
BR-DD:背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜
BEX2-DD:背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜以及波段扩展双层抗反射膜
有效像素
1024×255
1024×256
像元尺寸
26μm×26μm
探测面尺寸
26.6 mm×6.6 mm
最大光谱采集速度
88 (10 rows crop mode), 75 (Full Vertical Bin), 65 ( 开放电极, Full Vertical Bin)
线性度
>99%
最小读出噪声
OE:<4 e- ,BU, BU2, BVF:<6 e-
BR-DD:<4 e-
暗电流
OE:0.0004 e- /pixel/sec @-100℃,
BU/BU2:0.002 e- /pixel/sec @-100℃ ,
BVF:0.002 e- /pixel/sec @-100℃
Bx-DD:0.008 e- /pixel/sec @-100℃
最低制冷温度
-70℃
-100℃
光窗类型
单石英窗口,无镀膜。防反射膜或MgF2 可选
BR-DD:单石英窗口, 防反射镀膜(900nm 优化)
BEX2-DD:单石英窗口,无镀膜
iDus 420系列光谱CCD探测器,iDus 420
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