仪器简介：
目前能测量固体或薄膜材料的液固介面ZETA电位的仪器很少。而应用电泳光散射的方法，测量液、固介面Zeta电位的仪器仅有贝克曼库尔特公司zei新上市的DelsaNano系列。
DelsaNano C是目前惟一的应用电泳光散射及动态光散射原理，同时提供颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固表面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分析仪。DelsaNnao通过特别设计的固体平板样品池，有效精确地为固体材料、纤维材料、薄膜材料等提供ZETA电位分析。为广大的新材料研究、生产提供先进的、多用途的分析工具。
技术参数：
测量范围：
1.适合测量各种固体、薄膜、纤维等；
3.ZETA电 势：- 200 mV ~ +200 mV
4.电迁移率：-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V
5.可配合自动滴定仪进行动态pH滴定测量
光 源：
双固体激光，30 mW
探测器：
高性能光电倍增管
样品池：
固体平板样品池
主要特点：
1.测量固液界面ZETA电位，惟一的应用电泳光散射的技术；
2.操作简单，方便快捷；
3.静态测量与动态测量；
4.待测样品无须特别处理；
5通过探测粒子准确推算表面ZETA电位；
6.分辨率高；
7.同时获得粒子ZETA电位与固体表面ZETA电位；
有效解决了样品高浓度测量的问题，真正解决了小角度正面测量所困扰的多重散射的障碍。是目前惟一的一种能获得高浓度纳米粒度分布与高浓度zeta电位分布的仪器。
1.新一代ELS仪器，采用FST透明电极专利，背散射技术。
2.zei广阔的浓度范围：由低浓度至高浓度。
3.惟一的一种能获得高浓度zeta电位分布与高浓度纳米粒径分布的仪器
4.多角度测量
5.自动滴定：动态检测Zeta电位、纳米粒径随Ph值的变化
6.自动滴定仪可直接由软件控制，备有三个独立滴管，自动计算IEP，自动绘制Zeta电位与pH值的比较图，没有哪种其它类似仪器能够满足以上所有要求。
DelsaNano C 宽动态（高浓度）纳米粒度分析仪：纳米技术与基因技术、网络技术一起被并称为二十一世纪的“三剑客”， 各国在纳米材料的研究上均投入了极大的人力物力。中国已建立3个国家级的纳米研究中心。
DelsaNano C 宽动态（高浓度）纳米粒度分析仪 纳米颗粒的表征主要集中在粒径与表面电势。Zeta电位可以很好地反映颗粒间作用强度，从而可用来预测胶体系统的稳定性。分散体系的Zeta电位 会因为Ph值、电导率、添加剂和颗粒表面的变化而改变。
一直以来，市场上许多纳米仪由于采用90度测量，仅能在大倍数稀释样品的状态下分析只能获得平均值，不能进行原液或高浓度样品的测量。因高浓度样品于90度测量时存在多重散射现象而无法获得数据。颗粒粒径极易因环境影响而改变，大倍数稀释往往导致溶液体系稳定性变化。测到的结果无法反应真实状态。
DelsaNano C 采用专利的FST技术（透明电极正向散射）与背散射技术，很好地解决了由低浓度到高浓度样品Zeta电位的测量与纳米粒径分布测量的难题。DelsaNnao C宽动态（高浓度）Zeta电位及纳米粒度分析仪是已知的惟一能够测量浓缩样品中微粒zeta电位分布与纳米粒径分布的仪器。
DelsaNano C 宽动态（高浓度）Zeta电位分析及纳米粒度分析仪
性能特点：
★ 当前惟一的应用电泳光散射原理满足自极低浓度至高浓度Zeta电位测量的仪器
★ 当前惟一的应用电泳光散射原理测量固体平面或薄膜平面Zeta电位的仪器，可通过固液介面Zeta电位分析，表征吸附力或附着力。（此项为可选项）
★ 大角度测量（背散射技术）高浓度样品的纳米粒径
★ 同时满足zei新的ISO 22412标准及旧的ISO13321 标准
★ 纳米粒径测量范围：0.6 nm ~ 7 μm
★ Zeta电位测量范围：-200mV ~ +200mV
粒径的适合范围：0.6 nm ~ 30 μm
★ 宽动态的纳米粒径测量浓度范围：0.001%～40%
★ 宽动态的Zeta电位测量浓度范围：0.001%～40%
★ 电迁移率：-1.2x10-3 cm2/ V.s ~ +1.2x10-3 cm2/ V.s
★电导率：zei大可至200mS/cm
★ 电压范围：0伏 ~ 300伏
★ 分子量：1x 103 ~ 3x107 道尔顿
★ 测量原理：光子相关光谱法（动态光散射），电泳光散射法
★ 分析模式：粒径：COTIN、NNLS及Marquardt ;
Zeta电位：Smoluchowski、Huckel及other （input value）
★ 应用技术：背散射技术、FST 透明电极专利技术；
平面样品池测量技术（可选项）
★ 固体激光：双光源，波长658nm, 功率30 mW
★ 检测器：高性能光电倍增管（PMT），真正的光子计数器
★ 相关器：对数相关器、线性相关器；zei大1,000,000等效通道；
★ 具有时域法及时间间隔法模式，可准确探测极稀浓度或小于3nm纳米样品的单个光子信号。
★ 样品池：高浓度样品池、流动样品池、标准粒径池；固体平面样品池（可选项）
★一次性样品池：避免不同样品间的污染
★石英玻璃样品池：适用普通样品及有机溶剂样品，比插入式的更少的干扰、更低的成本。
★ 多角度分析：165°、15°及30°
★ 自动电子温控：低于环境温度15℃~ 90℃；温度精度：±0.1℃；若采用低温状况测量，可使用氮气吹扫，以防止样品池镜片冷凝，保证正常的测量。
★ 具备智能32级自动衰减和手动设定功能
★ 智能寻找及定位zei佳信号位置
★ 实时监控显示测量纳米粒径、Zeta电位的整个过程
★ 可升级配置固体或薄膜平面Zeta电位测量模块（此项为可选项），以作固液介面Zeta电位分析。提供新颖的平面固体材料、薄膜材料的吸附力、附着力表征方法。
★ 选择配置自动滴定仪（此项为可选项）可动态分析。动态测量Zeta电位或粒度随PH酸度值、离子浓度或混合物浓度等的不同引起的变化趋势，自动描绘滴定曲线。
★ 自动滴定仪配有氮气吹扫装置以保护样品与空气隔离，防止样品氧化。
★ 测量样品的PH值范围：1~13
★ 操作及分析软件：
1）图形化软件设计、支持窗口拖放、个性化安排功能窗口；
2）SOP设计师功能，使纳米粒径分析、Zeta电位分析中的运行参数、分析参数、样品池参数及稀释液参数均可自动按设置好的SOP程序运行；
3）单峰分析及多峰分析功能；
4）再分析功能：可对原始数据进行参数调整后的重新分析；
5）丰富的分析模式：光强-粒径分布、体积-粒径分布、数目-体积分布的平均值、峰值、D10、D50、D90等的曲线及列表；迁移率分布、Zeta电位分布等；
6）提供PDF打印报告格式；
7）可批量导入、导出原始数据。
贝克曼库尔特薄膜Zeta电位分布分析仪,DelsaNano C
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