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技术参数:
1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm TEM点分辨:0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector) 2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x 3.加速电压: 200 kV 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard TEM Cs corrector Optional 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.
主要特点:
原子分辨率 S/TEM 标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0.071 nm, 为世界zei高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。 极强的抗干扰能力和超高稳定性 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。
可以选配成像系统的球差校正器 点分辨率可以提高到 0.11 nm. 自动球差校正软件,操作极为简单 克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜,JEM-ARM200F NEOARM
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作得心应手,是材料表征和分析的绝佳选择。
原子周围产生的磁场被认为是磁力的起源,透射电镜的分辨率现在虽然可到原子级,但样品往往放在强磁场中,因此原子周围的磁场无法被观测。由日本东京大学和日本电子会社(JEOL)联合开发的原子级分辨率无磁场透射电镜(MARS)使这种观测成为可能。最新研究结果今年2月10日在Nature上发表。 MARS外观图a) 原子构造模型,箭头为磁矩方向b) 1
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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