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薄膜厚度测量仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。了解详细信息,敬请致电济南兰光
薄膜厚度测量仪特 征 微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量 测头自动升降 自动进样 手动、自动双重测量模式 数据实时显示、自动统计 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数 标准接触面积、测量压力(非标可选) 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差 标准量块标定 RS232接口 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜厚度测量仪技术指标 测量范围:0~2mm 0~6mm;12mm(可选) 分 辨 率:0.1μm 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 进样步距:0~1000mm 进样速度:0.1~99.9mm/s 电 源:AC 220V 50Hz 外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H) 净 重:32kg
薄膜厚度测量仪标 准 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 配 置 标准配置:主机、标准量块一件 选 购 件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
薄膜厚度测量仪(CHY-CA自动进样),CHY-CA
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