您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
仪器功能:
TD-5000 X射线单晶衍射仪主要用于测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度,分析孪晶、无公度晶体、准晶等殊材料结构。测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度);可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型和构象等结构信息。
仪器特点:
整机采用可编程序控制器PLC控制技术;
操作方便,一键式采集系统;
模块化设计,配件即插即用,无需校准;
触摸屏实时在线监测,显示仪器状态;
高功率X射线发生器,性能稳定可靠;
电子铅门联锁装置,双重防护。
仪器精度:
最小步进角度:0.0001°;
2θ角重复精度:0.0001°;
温度控制范围:100K—300K
控制精度:±0.3K
TD-5000型X射线单晶衍射仪采用四圆同心技术来保证无论发生怎么样的转动均可使测角仪中心保持不变,实现获得最精准的数据的目的,得到更高的完整率,四圆同心是常规单晶扫描的必要性条件。并且搭载了PILATUS面探测器,使数据质量更高,扫描速度更快。
(PILATUS面探测器)
PILATUS面探测器特点:
敏感区域 [mm2]:83.8 × 70.0
像素尺寸 [µm2]:172 × 172
像素间距:< 0.03%
最大帧速率[Hz]:20
读出时间[ms]:7
能量范围[keV]:3.5 - 18
TD-5000型X射线单晶衍射仪技术参数
靶材类型
靶材:Cu、Mo等;波纹陶瓷管;
焦点尺寸
1×1mm
最大输出功率
2.4kW
X光管电压
10~60kV,1kV/step
X光管电流
2~50mA或2~80mA,1mA/step
3kW高频高压发生器或5kW高功率发生器
输出稳定性
≤0.005%(电源电压波动10%)
测角仪结构
四圆kappa几何测角仪
探测器移动距离
37.5mm—132.5mm
扫描范围
Phi : -360° ~ 360°;Theta:-70° ~ 105°;
Kappa(Chi):-72°~72°;Omega:Theta ± 90°;
最小步进角度
0.0001°
2θ角重复精度
探测器类型
面探测器(瑞士PILATUS 200k)
能量范围
3.5 – 18[keV]
像素尺寸
172 × 172[µm2]
读出时间
7[ms]
样品低温冷却方式
液氮
温度控制范围
100K——300K
控制精度
±0.3K
安全指标
采用电子防护系统,铅门联锁装置,双重防护,安全可靠,确保使用者安全。
X射线泄漏
≤0.12µsv/h(X射线管最大功率时)
外形尺寸(mm)
1300(长) ×1000(宽)×1800 (高)
TD-3700型X射线衍射仪组成明细
序 号
名 称
数 量
备注
1
X射线发生器
①.高压控制单元
1套
进口PLC控制
②.高压变压器
③.管套体
含自动光闸系统
④.高压电缆(介电电压100kV)
1根
⑤.X射线管(Mo靶2.4kW)
1只
波纹陶瓷
2
测角仪系统
①.四圆kappa几何测角仪
1个
②.载晶台
③.单色器
④.准直管
⑤.CCD样品监视装置
3
循环冷却水装置
①.制冷冷却装置
②.水管
2根
③.电源电缆
④.控制和检测电缆
4
记录控制单元
①.面探测器及电缆
5
液氮低温装置
①.低温控制系统
②.液氮蒸发器及其固定装置
③.液氮罐
6
微机系统(打印机)
①.双核CPU ,RAM4G,硬盘500G
7
软 件
①.仪器控制软件
②.单晶数据结构解析软件
③.Olex2晶体结构的可视化
8
备品备件
①.工具,保险丝
9
随机技术资料
①.使用说明书
1份
②.装箱单
③.合格证
可选附件:
多层膜聚焦透镜:
X射线管功率:30W或50W;发散度:0.5~1 mrad;
X射线管靶材:Mo / Cu 靶;焦斑:0.5~2 mm。
TD-5000型X射线单晶衍射仪,TD-5000
TD-5000型X射线单晶衍射仪信息由丹东通达科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于TD-5000型X射线单晶衍射仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程
T/CSTM 00837-2022 材料基因工程数据 元数据标准化基本原则与方法
GB/T 39860-2021 胶乳制品表面残余矿物粉末的快速鉴别 X-射线衍射法
T/ZGIA 005-2021 石墨烯测试方法 复合纤维中石墨烯基材料的测定 锦纶
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分:X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析
T/CSBM 0028-2022 外科植入物用磷酸四钙
T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
T/CSBM 0027-2022 外科植入物用α-磷酸三钙
T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法
T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
T/CSCP 0035.17-2017 低合金结构钢实验室腐蚀试验 第17部分:低合金结构钢腐蚀产物分析方法
T/CSTM 00046.17-2018 低合金结构钢腐蚀试验 第17部分:腐蚀产物分析方法导则
GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片
HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法
环境监测热点项目培训专场
食品真实性鉴别与溯源
"传承·创新·发展" —— 产学研深度融合推动中药现代化网络研讨会
酒类相关标准制修订情况及应用解读
TD-3500型XRD
通达台式X射线衍射仪TDM-20
通达分析仪器TD-3700型X射线衍射仪
通达X射线晶体分析仪TDF-3000
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号