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EA1400全新的硅漂移探测器(SDD)设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外,高性能探测器能提高计数率,增加探测痕量元素的精密度,并且实现测量较轻元素的卓越能力。为了确保最高生产率,将黄铜中镉的筛查(通常是XRF RoHS筛查中最具挑战性的一项)功能设计成比传统型号速度更快,从而大幅提高通量。该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1400一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况,由此可增加测量多件样本的通量,从而节省时间且不会影响质量计划。除了RoHS筛查,EA1400也能够辨别矿渣(硅、钙、铝和镁)、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。
特点
■ 高阶Vortex SDD检测器
■ 快速分析缩短检测时间
■ 高检测率、高精准度
■ 计算机控制五种滤波器
■ 元素分析范围(钠Na-铀U)
■ CCD超高分辨率图像
■ 准直器面积自动切换1mm、3mm、5mm
HITACHI EA1400 X射线荧光光谱仪,EA1400
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