您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
应用于IC、半导体制造及科研开发等领域 覆盖生产线上所有非金属薄膜 多参数和多层膜测量
Nanothi 100技术规格 可测薄膜 可测膜层 Oxide、Nitride、BPSG、PR、PI、Polymer、Polysilicon、ITO等 膜层结构 Oxide/Si、PR/Si、Nitride/Si、Polysilicon/Oxide/Si 等单、多层结构 测量参数 T,N,K,R 测量范围 25nm - 20µm (Oxide/Si) 硬件规格 光谱范围 400-800nm 物镜倍率 4X 10X 40X 光斑尺寸 zei小30µm 机械分辨率 X:1µm, Y:1µm, Z:0.04µm 测量指标 250Å-2000Å 2000Å-20µm 准确度 ±1% ±1% 重复性(3б) 0.75Å 0.05% 稳定性(3б) 2.4Å 0.25% 测量时间 单点 < 3sec, 5点 <30sec
先进的光学测量技术 高精度、高重复性测量 稳定、使用寿命长且低成本的光源 高性能PDA 自动调焦 三维全自动机械平台 贴近生产实际操作习惯的软件系统,为测量提供快捷、方便易用的操作 数据的准确测量与实时评价
高精度薄膜测量设备,Nanothi 100
高精度薄膜测量设备信息由aep Technology中国办事处为您提供,如您想了解更多关于高精度薄膜测量设备报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
Orion Star A 便携式高端溶解氧测量仪
独立三槽-biometra TProfessional Trio 热循环仪
岩心/土壤高光谱成像仪
奥豪斯 SC310 pH电极
透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
激光单粒子效应模拟测量系统
超低温高效节能冰箱U410-HEF, U570-HEF, C660-HEF & U725-G
856电导率仪
群组论坛--表界面物性测试
您可能要找:比表面高精度薄膜测量设备价格Nanothi 100比表面参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号