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仪器简介:
■CPA225D 原 产 地: 德国sartorius赛多利斯
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技术参数:
CPA225D半微量天平
主要特点:
内置单体自动校准
出色的绝缘防静电功能 卓越的可读性
梅特勒--CPA225D半微量天平,CPA225D
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