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特点:
30 ms的测量速度
较宽的波长范围
PDL测量精度高
PDL模拟输出
高亮的OLED屏
应用:
PDL与波长测量
DWDM器件特性测试
光纤传感元件特性测试
采用专利最大最小搜索技术,通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口,用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。
偏振相关损耗测量仪PDL-201, PDL-201
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