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博曼P系列产品概述:
P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。
博曼P系列可满足以下类型用户的需求:
- 小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变化
- 符合IPC-4552A
博曼P系列产品参数:
类别
参数
元素测量范围:
X射线管:
探测器:
分析层数及元素数:
滤波器/准直器:
焦距:
数字脉冲器:
计算机:
相机:
电源:
重量:
马达控制/可编程XY平台:
延伸可编程XY平台:
样品仓尺寸:
外形尺寸:
13号铝元素到92号铀元素
50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
5层, 每层可分析10种元素,成分分析可分析25种元素
4位置一次过滤器/4种规格准直器
可变焦
4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
32-50kg
平台尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"
平台尺寸:25"x 25"| 行程:10"x 10"
高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:335mm(13")
高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列, P系列
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