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仪器简介:
DIC(Digital Image Correlation)数字图像相关技术是一种非接触式测量材料全场应变、位移的光学测量技术,该技术几乎适用于任何材料且测试面积广、结果精确。
Dantec Q-400μDIC丹迪公司研发生产的一款专门用于测量微电子元件、生物材料变形的显微DIC测量仪,可测量一些显微结构的翘曲实验、热膨胀系数等,具有精度高,体积小等优点。
技术参数:
测量维度:二维、三维
测量区域:0.1mm×0.1mm至17mm×17mm
测量精度:位移(1μm),应变(0.005%)
主要特点:
精度高、测量范围广、无接触、方便使用
显微数字图像相关系统, Q-400μDIC
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