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Moxtek公司生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成,主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中,作为能量分辨的探测器。 XPIN-XT探测器主要技术指标有效探测面积:6 mm2 、 13 mm2硅片厚度:450um、625um铍窗厚度:8um、25um准直器材料:W/Co/Ti/Al能量分辨率:6 mm2 < 170eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM峰背比:6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical)
Si-PIN探测器, XPIN-XT
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